上海韬盛电子科技有限公司 main business:电子测量软件开发和销售，电子测量仪器仪表的销售，并提供相关的技术咨询和技术服务。（涉及行政许可的，凭许可证经营）。 and other products. Company respected "practical, hard work, responsibility" spirit of enterprise, and to integrity, win-win, creating business ideas, to create a good business environment, with a new management model, perfect technology, attentive service, excellent quality of basic survival, we always adhere to customer first intentions to serve customers, persist in using their services to impress clients.
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| 序号 | 注册号 | 商标 | 商标名 | 申请时间 | 商品服务列表 | 内容 |
| 1 | 8608729 |  |
TWINPROBE | 2010-08-25 | 测量器械和仪器;测量水平仪;压力计;电测量仪器;光学器械和仪器;半导体;集成电路;半导体器件;继电器(电的); | 查看详情 |
| 2 | 12812765 |  |
TWINSOLUTION | 2013-06-25 | 测量装置;测量器械和仪器;测量仪器;测量水平仪;压力计;集成电路;半导体器件;继电器(电);材料检验仪器和机器;电测量仪器; | 查看详情 |
| 3 | 8452646 |  |
TWINTECH | 2010-07-05 | 调制解调器；电镀设备 | 查看详情 |
| 4 | 8425133 |  |
TWINSOCKET | 2010-06-25 | 测量器械和仪器；测量水平仪；压力计；电测量仪器；光学器械和仪器；半导体；集成电路；半导体器件；继电器(电的) | 查看详情 |
| 5 | 8424993 |  |
韬盛科技 TWINSOLUTION TECHNOLOGY | 2010-06-25 | 测量器械和仪器；测量水平仪；压力计；电测量仪器；集成电路；半导体器件；继电器(电的) | 查看详情 |
| 6 | 12812740 |  |
图形 | 2013-06-25 | 测量装置;测量器械和仪器;测量仪器;测量水平仪;压力计;集成电路;半导体器件;继电器(电);材料检验仪器和机器;电测量仪器; | 查看详情 |
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN204359904U | 半导体芯片测试装置 | 2015.05.27 | 本实用新型涉及一种半导体芯片测试装置，属于半导体芯片技术领域。由于该实用新型的半导体芯片测试装置在位 |
| 2 | CN204302386U | 探针寿命测试仪 | 2015.04.29 | 本实用新型涉及一种探针寿命测试仪，属于电子设备技术领域。该结构的探针寿命测试仪包括曲柄机构、测试针固 |
| 3 | CN204303758U | 芯片测试治具 | 2015.04.29 | 本实用新型涉及一种芯片测试治具，属于电子产品技术领域。该芯片测试治具包括本体、铜块和护板，铜块位于所 |
| 4 | CN204302330U | 应用于开尔文测试的芯片测试针及治具 | 2015.04.29 | 本实用新型涉及一种应用于开尔文测试的芯片测试针及治具，属于电子产品技术领域。该应用于开尔文测试的芯片 |
| 5 | CN204302321U | 适用于高频测试的芯片测试插座 | 2015.04.29 | 本实用新型涉及一种适用于高频测试的芯片测试插座，属于电子设备技术领域。采用了该结构的适用于高频测试的 |
| 6 | CN204302329U | 微电机系统测试针 | 2015.04.29 | 本实用新型涉及一种微电机系统测试针，属于电子产品技术领域。该结构的微电机系统测试针包括顶部针头和底部 |
| 7 | CN204302319U | 芯片测试固定装置 | 2015.04.29 | 本实用新型涉及一种芯片测试固定装置，属于电子设备技术领域。该结构的芯片测试固定装置包括底座和连杆，连 |
| 8 | CN203376446U | 一种集成电路测试治具 | 2014.01.01 | 本实用新型涉及一种集成电路测试治具，由以下部件组成：盖子主体、卡钩、压板、顶针、第一弹簧、盖板、第二 |
| 9 | CN103399268A | 顶针式的集成电路测试治具 | 2013.11.20 | 本发明涉及一种顶针式的集成电路测试治具，由以下部件组成：盖子主体、卡钩、压板、顶针、第一弹簧、盖板、 |
| 10 | CN202204837U | 一种手动式芯片测试夹具 | 2012.04.25 | 本实用新型涉及一种手动式芯片测试夹具。其结构包括了连接器，连接器导向块、连接器导向块紧固螺丝、连接器 |
| 11 | CN202204832U | 一种分体式探针型测试机头 | 2012.04.25 | 一种分体式探针型测试机头，采用分体式结构，机头与测试机间采用端子连线的方式进行连接；包括测试基座，扇 |
| 12 | CN202145214U | 一种基于开尔文原理的半导体芯片测试插座 | 2012.02.15 | 本实用新型涉及一种基于开尔文连接电路设计的半导体芯片测试插座，包括芯片测试腔，插座内部构造由插座主体 |
| 13 | CN202141744U | 一种半导体测试座压盖 | 2012.02.08 | 本实用新型提出一种半导体测试座压盖，包括：旋转手柄1，进给螺纹环2，调节盖主体3，双散热片部件4，开 |
| 14 | CN202126453U | 一种新型半导体探针 | 2012.01.25 | 本实用新型涉及一种集成电路测试时使用的新型半导体探针，特别是在大规模的高频集成电路测试时能保证探针总 |
| 15 | CN202126452U | 一种双弹簧探针 | 2012.01.25 | 本实用新型涉及一种集成电路测试时使用的探针，特别是在高频集成电路测试时能保证探针总长极短，同时又要提 |
| 16 | CN202126447U | 一种阻抗可控的测试插座 | 2012.01.25 | 本实用新型涉及一种插座，尤其涉及一种用于半导体芯片测试的探针型测试插座。一种阻抗可控的测试插座，包括 |
| 17 | CN301714106S | 集成电路测试用探针 | 2011.11.02 | 外观设计产品的名称：集成电路测试用探针。外观设计产品的用途：集成电路测试装置。外观设计的设计要点：在 |
| 18 | CN301714105S | 集成电路测试用探针 | 2011.11.02 | 外观设计产品的名称：集成电路测试用探针。外观设计产品的用途：集成电路的测试装置。外观设计的设计要点： |
| 19 | CN202025020U | 一种自动除屑的测试插座 | 2011.11.02 | 本实用新型涉及一种自动除屑的测试插座，其主要由底板、连接器主体、芯片、流道和外接真空吸嘴组成，其中连 |
| 20 | CN202002950U | 一种弹簧探针 | 2011.10.05 | 本实用新型涉及弹簧探针，尤其是一种用于集成电路成品测试用的弹簧探针。包括上顶针、腔体、弹簧和下顶针， |
| 21 | CN201937131U | 依靠中心导地块改善高频性能的集成电路测试插座 | 2011.08.17 | 本实用新型公开了一种依靠中心导地块改善高频性能的集成电路测试插座，包括插座主体，其中，插座主体包括底 |
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